新建-二级质量分光学基本知识简介
发布日期 :
2019年10月11日
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作者/源码:
CAMECA
动态SIMS提供局部元素和同位素特征描述样本深度从纳米到数十微米不等
CAMECA于1960年代初首次商业化SIMS使用聚焦离子波束轰炸样本表面并收集代表样本表面组成并喷射二级离子SIMS分析二次离子带质谱仪
单片系统仍然是现有最敏感表层分析技术,提供局部元素、同位素和样本表面分子特征描述它可以应用到高真空下可保持的任何固态材料,包括解压器、半导体、金属甚至生物样本
新的基本知识简介即动态二次质量剖析详细概述动态SIMS,将技术函数关联并描述它优于其他研究方法
与Wiley联合编辑,本教程探索通过SIMS实现的不同技术开发,为范围更广样本提供更高效分析解决方案EKB所包括的四个案例研究详细介绍了从生命科学到材料和宇宙化学等各个领域的这些分析技术
目录 :
导 言
历史背景
实践
案例研究1:视觉相信
案例研究2:合成半导体晶体
案例研究3:测量月球和火星上的氢
案例研究4自爆SIMS
问题解决
下一步是什么
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